膜厚测量仪（厚度范围1nm~1.8mm），高性价比膜厚测量仪，详情请咨询上海昊量光电设备有限公司。
上海昊量光电设备有限公司在其他光学仪器这个行业中，是一家屈指可数的好公司。其主营的产品——膜厚测量仪，更是在业界中受到广大客户的喜爱。
美国Semisonsoft公司MProbe系列薄膜测厚仪测量厚度可以低至1nm，厚至1.8mm，埃级分辨率，非接触式无损快速测量。广泛应用在各种生产或研究中，比如测量薄膜太阳能电池的CIGS层，触摸屏中的ITO层等。大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。膜厚测量仪（厚度范围1nm~1.8mm）
膜厚测量仪（厚度范围1nm~1.8mm）
MPROBE - MAKING THIN FILMS THICKNESS MEASUREMENT EASY
美国Semisonsoft公司MProbe系列薄膜测厚仪测量厚度可以低至1nm，厚至1.8mm，埃级分辨率，非接触式无损快速测量。广泛应用在各种生产或研究中，比如测量薄膜太阳能电池的CIGS层，触摸屏中的ITO层等。大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。
测量原理：当指定波长范围的光照射到薄膜上时，从不同界面上反射的光相位不同，从而引起干涉导致强度相长或相消。而这种强度的振荡是与薄膜的结构相关的。通过对这种振荡拟合和傅里叶变换就可获得样品厚度和相关的光学常数。
比如：
半导体（硅，单晶硅，多晶硅）
半导体化合物（AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS）
微电子机械（MEMS）
氧化物/氮化物
光刻胶
硬涂层（碳化硅，类金刚石炭）
聚合物涂层（聚对二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺）
高分子聚合物
MProbe膜厚测量仪操作简单，智能膜厚测量仪商家_原装进口膜厚测量仪_上海昊量光电设备有限公司，只需一键操作即可获得样品的厚度、折射率（n, k）和表面粗糙度等信息，膜厚测量设备可支持不同光谱范围，光谱范围可达200-1700nm，因此可测量厚度范围可从1nm到2mm。 设备中无移动组件，所以测量结果几乎是即时得到的；TFCompanion测量软件使得测量过程非常简单且透明，测量历史、动态测量、模拟、颜色分析、直接在样品图像上显示结果。
分类：
1、单点膜厚测量——MPROBE-20
2、单点手持膜厚测量——MPROBE HC
3、聚焦光斑膜厚测量仪——MPROBE 40
4、原位测量膜厚测量仪——MPROBE 50 INSITU
5、支持Mapping的聚焦膜厚测量仪——MPROBE 60
6、在线膜厚测量仪——MProbe 70
12/22/2015，前日，2015年全国高功率光纤激光研究与应用研讨会在海沧圆满落幕。18日至20日，国内众多该领域***研究人员齐聚海沧，深入研讨交流系统与单元关键技术。 此次研讨会由大功率光纤激光协同***中心主办，厦门市军民融合协同***研究院、中国激光杂志社有限公司共同承办，海沧区政府协办。 会议吸引了来自近30家从事光纤激光技术领域研究的高校、研究院所和企业的专家约80人参会，包括10名***专家、863专家组专家等***人才计划入选者。 据了解，光纤激光器具有转换效率高、光束质量好、热管理方便、结构紧凑等优点，在先进制造、能源勘探等领域有广泛的应用需求。近年来，我国在高功率光纤激光器的研究与应用方面取得了一系列重要进展，智能膜厚测量仪商家_正规膜厚测量仪报价_上海昊量光电设备有限公司，但与国际先进水平相比还有一定差距，主办方希望借此会议，开展深入研究交流，提升我国高功率光纤激光领域整体水平。
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